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Products半导体用高低温试验箱适用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、半导体、光伏、通讯、塑料制品、医疗等试验对产品做高温、耐寒、高低温交变试验例行试验。在拟定环境条件下进行试验存储后对产品的性能、行为作出分析及评价
一、半导体用高低温试验箱简介：
适用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、半导体、光伏、通讯、塑料制品、医疗等试验对产品做高温、耐寒、高低温交变试验例行试验。在拟定环境条件下进行试验存储后对产品的性能、行为作出分析及评价
二、半导体用高低温试验箱技术参数：
型号 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
温度范围 | -70-+100℃（150℃） （A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃） | ||||||
温度解析度/均匀度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
温度控制精度/波动度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升温/降温时间 | 约3℃/min 约1℃/min （其他条件可定制） | ||||||
电源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60H | ||||||
三、高低温试验机执行标准：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温
2. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
3. GJB150.3A－2009 高温试验方法
4. GJB150.4A－2009 低温试验方法
5. GB2423.22-2008电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Nb：规定温度变化速率的温度变化
6. GBT 2424.5-2006 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
四、高低温试验机供电条件和电源：
AC220V单相R 、 N +保护接地；电压允许波动范围10%；
频率允许波动范围50±0.5ＨZ；TN-S方式供电或TT方式供电
保护地线接地电阻小于4Ω
要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须独立控制本，设备使用箱内放置通电试料时，试料电源请使用外加电源，不得直接使用本机电源；
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